Este curso comenzará con una introducción a los antecedentes de los rayos X, así como a las aplicaciones y la producción de rayos X. Estarás expuesto a la radiografía, la difracción, los cristales y la simetría. Aprenderás sobre los operadores de simetría en la cristalografía, el descubrimiento de la difracción de rayos X y el difractograma. Comprenderá cómo se producen los rayos X y el contenido de los tubos de rayos X. Esto lo llevará a la radiografía, la difracción y al descubrimiento del fenómeno de la difracción de rayos X por cristales. Además, podrás explicar la geometría, la estructura de los cristales y lo que les permite difractar los rayos X.

A continuación, aprenderá sobre el análisis de fase cualitativa de la difracción de rayos X, sobre cómo se pueden utilizar los patrones de difracción de rayos X para el análisis cualitativo y sobre el uso del software de análisis de datos XRD. Se enfrentará a dificultades prácticas en el análisis de fases, la preparación de muestras para la difracción de rayos X y la aplicación de la XRD en materiales a base de cemento. Esto le explicará aún más por qué se utiliza la XRD en el cemento y cómo preparar las muestras para la difracción

Por último, conocerá los pasos críticos que implica la preparación de las muestras, las razones para detener la hidratación al mezclar el cemento y las diferentes técnicas para detener la hidratación. Además, comprenderá la preparación de muestras para la radiografía y el montaje de las muestras para la difracción de rayos X. Luego, aprenderá sobre las dificultades prácticas del análisis cualitativo de fases. También aprenderá sobre el método de Reitveld como el método más importante utilizado para minimizar la diferencia entre los patrones medidos y calculados en cada punto de datos del patrón de difracción, utilizando un enfoque de mínimos cuadrados. ¡Empieza a aprender